Microscopia a scansione elettronica SEM

Questo test permette di osservare la struttura superficiale dei materiali con elevata risoluzione, analizzando difetti, fratture, usura e contaminazioni su scala micrometrica e nanometrica. Viene utilizzato in settori come metallurgia, elettronica, automotive e beni culturali per lo studio di materiali metallici, polimerici e compositi. L’analisi fornisce informazioni sulla rugosità, la porosità e la distribuzione dei difetti.

Associata alla microscopia SEM, la spettroscopia EDS consente di identificare e quantificare gli elementi chimici presenti in un campione. Questa tecnica è utilizzata per verificare contaminazioni, inclusioni non metalliche e variazioni composizionali in materiali come leghe metalliche, ceramiche e polimeri ed è ampiamente impiegata nei settori dell’industria manifatturiera e della failure analysis.

Questa tecnica è fondamentale per l’analisi dei meccanismi di cedimento dei materiali. Permette di identificare le cause della frattura (fragile, duttile, da fatica o da corrosione) attraverso l’osservazione delle superfici di rottura. È utilizzata in ambito aerospaziale, automobilistico e industriale per migliorare la progettazione e prevenire guasti prematuri.

Questo test consente di studiare la qualità dei trattamenti superficiali, come rivestimenti protettivi, placcature e ossidazioni, verificando adesione, spessore e uniformità dello strato depositato. È impiegato in settori come il biomedicale, l’elettronica e l’ingegneria dei materiali per garantire la conformità agli standard tecnici.

Utilizzando il SEM in modalità ad alta risoluzione, è possibile esaminare la morfologia e la distribuzione delle nanoparticelle nei materiali. Questa tecnica è essenziale in ambito farmaceutico, ambientale e nei nuovi materiali avanzati per il controllo di qualità e la ricerca sulle nanostrutture.