Ottieni immagini ad alta risoluzione su aree selezionate per individuare le cause di guasto
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La microscopia a scansione elettronica, detta anche analisi SEM, è la tecnica principale per indagare le cause di guasto nell’ambito della failure analysis e consente di eseguire indagini morfologiche delle superfici con ingrandimenti fino a 400.000x. Grazie a simili immagini è possibile analizzare ad esempio zone di rottura duttile, fragile, linee di spiaggia, contaminanti, infragilimento da idrogeno, corrosione.
I test sono necessari per mettere a punto soluzioni innovative per prodotti e componenti in diversi settori di applicazione.
Materiali Metallici
Materiali Avanzati
Automotive
Aerospace
Industriale
Elettronica
Svolgiamo svariate prove di microscopia a scansione elettronica, sia in modo standardizzato che personalizzato, per ottenere immagini ad alta risoluzione e individuare le cause di guasto
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Questo test permette di osservare la struttura superficiale dei materiali con elevata risoluzione, analizzando difetti, fratture, usura e contaminazioni su scala micrometrica e nanometrica. Viene utilizzato in settori come metallurgia, elettronica, automotive e beni culturali per lo studio di materiali metallici, polimerici e compositi. L’analisi fornisce informazioni sulla rugosità, la porosità e la distribuzione dei difetti.
Associata alla microscopia SEM, la spettroscopia EDS consente di identificare e quantificare gli elementi chimici presenti in un campione. Questa tecnica è utilizzata per verificare contaminazioni, inclusioni non metalliche e variazioni composizionali in materiali come leghe metalliche, ceramiche e polimeri ed è ampiamente impiegata nei settori dell’industria manifatturiera e della failure analysis.
Questa tecnica è fondamentale per l’analisi dei meccanismi di cedimento dei materiali. Permette di identificare le cause della frattura (fragile, duttile, da fatica o da corrosione) attraverso l’osservazione delle superfici di rottura. È utilizzata in ambito aerospaziale, automobilistico e industriale per migliorare la progettazione e prevenire guasti prematuri.
Questo test consente di studiare la qualità dei trattamenti superficiali, come rivestimenti protettivi, placcature e ossidazioni, verificando adesione, spessore e uniformità dello strato depositato. È impiegato in settori come il biomedicale, l’elettronica e l’ingegneria dei materiali per garantire la conformità agli standard tecnici.
Utilizzando il SEM in modalità ad alta risoluzione, è possibile esaminare la morfologia e la distribuzione delle nanoparticelle nei materiali. Questa tecnica è essenziale in ambito farmaceutico, ambientale e nei nuovi materiali avanzati per il controllo di qualità e la ricerca sulle nanostrutture.
Tutte le analisi possono essere strutturate in modo totalmente personalizzato, in base alle esigenze del cliente. Offriamo test su misura per materiali, condizioni di utilizzo e normative richieste, garantendo risultati affidabili e mirati.
Breve paragrafo sul fatto che Pontlab è sempre disposta e capace a realizzare test studiati sulle esigenze del cliente.
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Il microscopio elettronico SEM consente analisi di superfici e microstrutture con altissima risoluzione, supportando settori come elettronica, aerospaziale e beni culturali nella ricerca e nel controllo qualità.
Tutte le prove possono essere eseguite in modo completamente personalizzato, adattandosi alle esigenze del cliente. Pontlab offre anche consulenze su misura per definire i test più adatti, garantendo risultati affidabili e mirati.
Oltre alle prove di microscopia a scansione, Pontlab ne esegue innumerevoli altre, anche su materiali differenti tra cui: polimeri, tessuti, pellami e vernici. Scopri gli altri test visitando le pagine dedicate.
